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產(chǎn)品簡介:PI-85 SEM PicoIndenter?是可以集成在掃描電子顯微鏡(SEM)里的一個深度控制納米力學(xué)檢測儀系統(tǒng)。通過這個系統(tǒng)能夠同時進行量化納米力學(xué)性能檢測和SEM形貌觀察。 耦合這兩種技術(shù)能讓研究人員非常精確地定位探頭并且使用SEM圖像記錄測試中材料的整個變形過程。